EVEO :: ekspertyzy i wsparcie techniczne

Pierwsza testowana wersja panela URVE

Pierwsza testowana wersja panela URVE

Dla firmy EVEO, specjalizującej się w dostarczaniu systemów rezerwacji sal URVE, przeprowadziliśmy ekspertyzy dwóch wersji paneli URVE w połączeniu z czytnikiem HID serii OMNIKEY. Dodatkowo świadczyliśmy wsparcie techniczne w kwestii zasilania systemu oraz przeprowadzania różnych testów na obiekcie.

W czym tkwił problem?

Pierwsza ekspertyza miała na celu wykrycie źródła problemu sporadycznie zawieszających się czytników HID podłączanych do portu USB panela URVE. Problem miał charakter losowy i występował tylko u jednego z klientów firmy EVEO.

Przykładowy oscylogram z testów

Przykładowy oscylogram z testów

Na podstawie uzyskanych informacji i przeprowadzonych testów naszej firmie jako pierwszej (informacja EVEO) udało się odtworzyć zaobserwowaną sytuację w warunkach laboratoryjnych, co było pierwszym krokiem do poszukiwania środków zapobiegawczych. Przeprowadziliśmy ponadto analizę zasilania systemu i jego wpływu na końcowe urządzenia USB w odniesieniu do standardu USB 2.0. Zostaliśmy również poproszeni o ogólną ocenę jakości komponentów stosowanych w systemie oraz ewentualne sugestie. Finalnie sporządzona została lista wniosków i zaleceń.

Przykładowy oscylogram z testów

Przykładowy oscylogram z testów

Druga ekspertyza miała na celu porównanie nowej wersji sprzętowej panela URVE z poprzednią, głównie w kontekście podatności na wspomniane wcześniej problemy. Ocenie poddano również zmiany dokonane na płycie bazowej komputera (SBC) wbudowanego w panel. Na potrzeby ekspertyzy stworzone zostało stanowisko laboratoryjne, które pozwoliło w kontrolowany sposób generować zjawisko powodujące zawieszenie czytnika i tym samym porównać reakcję obu wersji urządzenia pracujących w analogicznych warunkach. Wnioski przedstawiono na licznych zdjęciach, oscylogramach i w komentarzach.
 

Panel URVE z nową płytą bazową

Panel URVE z nową płytą bazową

Dodane w Realizacje i oznaczone , , , , , , , , , , .